Main Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов

Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов

Name: Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов
Rating: 5.0 (4 reviews)

Гольцев В. П. и др.

5.0 / 5.0

0 comments

В книге изложены физические основы рентгеноспектрального микроанализа и прикладной электронной микроскопии. Впервые в отечественной литературе дано систематическое описание рентгеновских спектрометров, количественного рентгекоспектралького микроанализа и методов обработки результатов эксперимента с использованием ЭВМ. Приведены оригинальные результаты исследования физико-химических процессов, протекающих в материалах (коррозионное повреждение, деформация, фазовые превращения и др.) под воздействием химически активной среды, температуры и ионизирующих излучений. Предназначена для научных сотрудников, инженеров-металловедов, металлофизиков и технологов, будет полезна аспирантам и студентам вузов соответствующих специальностей.

Request Code : ZLIBIO4302087

Categories:

Year:

1980

Publisher:

Наука и техника

Language:

Russian

Pages:

192