Рентгенография металлов и полупроводников

М.: Металлургия, 1969. — 496 с.: ил.Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской гамма - дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма - лучей.Предназначается в качестве учебного пособия для студентов вузов и может быть полезна инженерам-исследователям, работающим в области технологии металлических сплавов полупроводниковых материалов.Введение.Физика рентгеновских лучейПрирода лучей рентгена, их преломление, дифракция.Спектры рентгеновских лучей.Излучение со сплошным спектром.Характеристические лучи Рентгена.Явления, сопровождающие прохождение рентгеновских лучей сквозь вещество.Гамма-лучи радиоактивных элементов.Источники рентгеновских лучей и аппараты гамма-дефектоскопииРентгеновские трубки и кенотроны.Источники высокого напряжения.Бетатрон (индукционный ускоритель); линейный ускоритель.Установки для просвечивания у-лучами радиоактивного распада.Детекторы рентгеновских лучейИзмерение интенсивности рентгеновского излучения при помощи счетчиков.Фотографический метод регистрации рентгеновских лучей и измерения их интенсивности.Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализаОбратная решетка.Основные уравнения дифракции рентгеновских лучей.Характеристика основных методов рентгеноструктурного анализа.Интенсивность интерференционных максимумов.Элементы рентгеноанализа монокристалловМетод Лауэ.Метод вращения кристалла.Установление структуры кристалла с помощью рентгеновских лучей.Методы рентгеноанализа поликристаллических веществПолучение рентгенограмм поликристаллов фотометодом.Рентгеновская дифрактометрия.Определение межплоскостных расстояний по дебаеграммам и идентификация фаз.Определение кристаллической структуры по рентгенограмме кристалла.Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)Принципы расчета рентгенограмм текстурованных материалов.Полюсные фигуры материалов с текстурой.Построение полюсных фигур при помощи дифрактометра.Построение «обратной» полюсной фигуры.Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических телОпределение числа, величины и формы кристаллов.Рассеяние рентгеновских лучей монокристаллом, испытавшим пластическую деформацию.Рентгенографическое определение остаточных напряжений в металлах и сплавах.Микронапряжения (напряжения II рода).Рентгеноанализ изменений структуры деформированных кристаллических веществ при нагреве.Рентгеноанализ сплавовРентгеноанализ твердых растворов.Построение границы растворимости для двойных и тройных сплавов.Рентгеноанализ упорядоченных твердых растворов.Определение фазового состава сплавов.Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излученияРентгеноанализ явлений, протекающих при распаде пересыщенных твердых растворов.Рентгенографический анализ структурных изменений при закалке и отпуске стали.Рентгенографические исследования действия облучения на структуру кристаллических веществ.Применение дифракции электронов и дейтронов для излучения структуры сплавовОсновные принципы.Элементы электронографии и ее применения.Нейтронография и ее применение.Основные принципы рентгеноспектрального анализаАппаратура для рентгеноспектрального анализа.Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ. Многоканальные рентгеновские спектрометры (квантометры).Рентгеноспектральный анализ в микрообъемах.Радиационная дефектоскопияОбщие положения.Рентгеновская дефектоскопия с фоторегистрацией лучей.Гамма-дефектоскопия с фотографической регистрацией лучей.Использование электромагнитного излучения бетатрона и линейного ускорителя.Рентгеноскопия — просвечивание рентгеновскими лучами.Основная литератураПриложенияЗащита от воздействия рентгеновских и гамма-лучейСправочные таблицы