Main Современные методы исследования поверхности твердых тел: Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия
Современные методы исследования поверхности твердых тел: Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия cover

Современные методы исследования поверхности твердых тел: Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия

5.0 / 5.0
0 comments
Екатеринбург: Ин-т химии твердого тела УрО РАН, 2010. – 43 с.В настоящем разделе дан обзор современных методов исследования поверхности твердых тел. В качестве примера рассмотрены ключевые методы, представляющие три условных направления анализа поверхности: спектроскопию (РФЭС, ЭОС), дифракцию (РФД, ДМЭ) и микроскопию (СТМ, АСМ). Совместно данные методы позволяют изучать химический состав и структуру поверхности, исследовать электронную структуру твердых тел, получать изображения поверхности с атомарным разрешением, манипулировать атомами на поверхности и изучать процессы, протекающие на поверхности.
Request Code : ZLIBIO2010394
Categories:
Year:
2022
Language:
Russian

Comments of this book

There are no comments yet.