Main
Гамма-спектрометрический анализ в камере низкого фона
Гамма-спектрометрический анализ в камере низкого фона
Бобров В.А., Кренделев Ф.П., Гофман А.М.
4.0
/
5.0
0 comments
Новосибирск: издательство «Наука», Сибирское отделение, 1975 - 60 с. Изложены методические разработки, направленные на совершенствование лабораторного сцинтилляционного гамма-спектрометрического метода анализа в приложении к решению задач геохимии естественных радиоактивных элементов (U, Th, К). Повышение чувствительности метода достигнуто за счёт применения сцинтилляторов из Nal (TI) больших размеров, подбора низкорадиоактивных материалов для их упаковки и защиты от внешнего фона. Описывается специализированное низкофоновое помещение.Книга полезна для геологов, физиков, занимающихся естественной и искусственной радиоактивностью элементов.СодержаниеГамма-излучение элементов уранового и ториевого рядовКамера низкого фона естественной радиоактивностиОписание спектрометрических установок Методические вопросы анализа на однокристальном спектрометреОсобенности анализа U(Ra), Th и K на многокристальном спектрометреПороги чувствительности и точность анализа
Comments of this book
There are no comments yet.