Основы динамической высокоразрешающей дифрактометрии функциональных материалов

В монографии раскрыта физическая природа и разработаны принципы применения обнаруженного авторами явления уникального повышения структурной чувствительности и появления информативной возможности решения задач многопараметрической диагностики монокристаллических систем с дефектами при использовании многократного рассеяния рентгеновских лучей, нейтронов и электронов. Это явление обусловлено формированием кристаллом с дефектами в процессе многократного рассеяния взаимодействующих стоячих диффузных и брэгговских волновых полей, управляемых условиями дифракции и зависящих от характеристик дефектов. Указанное явление используется для создания основ и практической реализации неразрушающей количественной диффузнодинамической комбинированной дифрактометрии многопараметрических монокристаллических материалов и многослойных систем с дефектами нескольких типов. Предлагается типовой проект оригинальных диагностических станций нового поколения, которые могут быть использованы на любом современном синхротроне или источнике нейтронов. Монография предназначена для исследователей в области диагностики дефектов в кристаллах и изделий нанотехнологий, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей.