Main Основы анализа поверхности и тонких пленок

Основы анализа поверхности и тонких пленок

Name: Основы анализа поверхности и тонких пленок
Rating: 5.0 (4 reviews)

Фелдман Л., Майер Д.

5.0 / 5.0

0 comments

Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне.

Request Code : ZLIBIO1574787

Categories:

Year:

1989

Publisher:

Мир

Language:

Russian